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                安科瑞泰SENpro光譜橢偏儀

                簡要描述:安科瑞泰SENpro光譜橢偏儀光譜橢偏儀SENpro具有操作簡單,測量速度快,能對不同入射角的橢偏測量數據進行組合分析等特點。光譜范圍為370到1050 nm。SENpro的光譜范圍與精密的SpectraRay/4軟件相結合,可以輕易地確定單層膜和復合層疊膜的厚度和折射率。

                • 產品型號:
                • 廠商性質:代理商
                • 更新時間:2020-12-28
                • 訪  問  量:138

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                安科瑞泰SENpro光譜橢偏儀

                成本效益

                SENpro是具成本效益的光譜橢偏儀,同時不影響先進測量性能。

                可變入射角

                光譜橢偏儀SENpro包括可變入射角的角度計,40°—90°,步進值5°,用于優化橢偏測量。

                步進掃描分析器

                SENpro具有獨特的步進掃描分析器。在數據采集過程中,偏振器和補償器固定,以提供高的橢偏測量精度。

                 

                安科瑞泰SENpro光譜橢偏儀

                光譜橢偏儀SENpro具有操作簡單,測量速度快,能對不同入射角的橢偏測量數據進行組合分析等特點。光譜范圍為370到1050 nm。SENpro的光譜范圍與精密的SpectraRay/4軟件相結合,可以輕易地確定單層膜和復合層疊膜的厚度和折射率。

                具有成本效益的桌面式SENpro包括可見光到近紅外橢偏儀光學,5°步進角度計,樣品臺、激光準直器、光纖耦合穩定光源和探測器單元。SENpro配備了用于系統控制和數據分析的光譜橢偏儀軟件SpectraRay/4 ,用于包括建模,擬合和報告輸出。即使對于初學者,該程序文件操作都非常容易。SpectraRay/4 支持計算機控制的用于均勻性測量的自動掃描。

                SENpro專注于薄膜測量的速度和精度,不管是何種薄膜應用。測量范圍從1 nm的薄層膜到15 μm的厚層膜。

                對于各種各樣的應用,SpectraRay/4都提供了預定義的配方。

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